晶体绝缘系统功能防呆方法及装置.pdf

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1、(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 202310721318.8(22)申请日 2023.06.19(71)申请人 台晶（重庆）电子有限公司地址 401329 重庆市九龙坡区凤笙路22号(72)发明人 赖伟肖凯徐勇(74)专利代理机构 重庆智慧之源知识产权代理事务所(普通合伙)50234专利代理师 母先定(51)Int.Cl.G01R 27/02(2006.01)(54)发明名称一种晶体绝缘系统功能防呆方法及装置(57)摘要本发明属于晶体检测技术领域，具体公开了一种晶体绝缘系统功能防呆方法及装置，将晶体产品放置绝缘检测工位上，通过绝。

2、缘测试头探针13位检测晶体产品13脚位的频率值，通过绝缘测试头探针24位检测晶体产品24脚位的GND状态；若频率值和GND状态均满足要求，则确定检测机的绝缘测试头探针位置符合要求，否则输出绝缘测试不通过信号；接触测试通过后，绝缘测试头探针检测晶体产品12,23,34,13脚位绝缘性阻值测试，当晶体产品12,23,34,13脚位绝缘性阻值均满足要求时，则检测机输出绝缘测试通过信号，否则输出绝缘测试不通过信号。在进行绝缘性阻值测试之前，先进行绝缘测试头探针与晶体产品之间的接触状态进行判断，保证了测试结果的准确性。权利要求书1页 说明书3页 附图2页CN 116609588 A2023.08.18C。

3、N 116609588 A1.一种晶体绝缘系统功能防呆方法，其特征在于：包括接触测试：将晶体产品放置绝缘检测工位上，通过绝缘测试头(5)探针13位检测晶体产品13脚位的频率值，通过绝缘测试头(5)探针24位检测晶体产品24脚位的GND状态；若频率值和GND状态均满足要求，则确定检测机的绝缘测试头(5)探针位置符合要求，否则输出绝缘测试不通过信号；绝缘检测：接触测试通过后，绝缘测试头(5)探针检测晶体产品12,23,34,13脚位绝缘性阻值测试，当晶体产品12,23,34,13脚位绝缘性阻值均满足要求时，则检测机输出绝缘测试通过信号，否则输出绝缘测试不通过信号。2.根据权利要求1所述的一种晶体绝。

4、缘系统功能防呆方法，其特征在于：还包括数据采集及报警：检测机统计输出绝缘测试不通过信号的连续次数和累计次数，当统计的绝缘测试不通过信号的连续次数或累计次数大于设定值时，检测机暂停运行并报警。3.根据权利要求1所述的一种晶体绝缘系统功能防呆方法，其特征在于：还包括校机测试：将晶体产品放置绝缘检测工位上，通过绝缘测试头(5)探针13位检测晶体产品13脚位的频率测试值，若频率测试值与检测机的设置值相等，则完成校机测试，否则进行检测机的维护直至完成校机测试。4.根据权利要求3所述的一种晶体绝缘系统功能防呆方法，其特征在于：完成校机测试完成，检测机将校机数据进行保存。5.一种晶体绝缘系统功能防呆装置，其。

5、特征在于：包括检测机，所述检测机包括PLC控制器(2)、绝缘电阻测试仪(1)、继电器(3)、晶体晶振频率检测仪(4)和绝缘测试头(5)；所述PLC控制器(2)与继电器(3)连接，所述继电器(3)分别与绝缘电阻测试仪(1)和晶体晶振频率检测仪(4)连接，所述绝缘测试头(5)上安装有用于检测的四组探针，所述绝缘测试头(5)与所述继电器(3)连接；所述继电器(3)通过切换与绝缘电阻测试仪(1)和晶体晶振频率检测仪(4)的连接来切换检测模式，所述检测模式包括绝缘探针检测模式和绝缘检测模式。6.根据权利要求5所述的一种晶体绝缘系统功能防呆装置，其特征在于：所述PLC控制器(2)能够记录和统计绝缘电阻测试。

6、仪(1)的检测结果信号，当统计的绝缘测试不通过信号的连续次数或累计次数大于设定值时，PLC控制器(2)关闭绝缘电阻测试仪(1)、继电器(3)和晶体晶振频率检测仪(4)并进行报警。权利要求书1/1 页2CN 116609588 A2一种晶体绝缘系统功能防呆方法及装置技术领域0001本发明属于晶体检测技术领域，尤其涉及一种晶体绝缘系统功能防呆方法。背景技术0002目前晶体绝缘性检测的方法通常是：采用数字绝缘测试仪或指针式绝缘测试仪检测晶体产品的4个功能脚位绝缘性,目前绝缘检测晶体产品12,23,34,13脚位绝缘阻抗值500M则判定产品绝缘性符合要求(也即是判定产品绝缘性OK)。当其中一位探针内缩。

7、后或探针接触晶体板(Crystal PAD)的位置偏移时,检测出的绝缘值为，会导致检测出绝缘性符合要求的结果，这样会导致晶体绝缘检测失效出现异常品。并且当晶体产品尺寸越来越小时，靠肉眼很难观察到探针与晶体板的接触面积与中心位置,所以总检机在正常作业中存在将绝缘性不良产品当成良品产品流向市场的情况。发明内容0003本发明的目的在于提供一种晶体绝缘系统功能防呆方法，以解决现有技术中由于探针内缩或接触位置发生偏移导致晶体绝缘检测失效，将不良产品当成良品产品流向市场的问题。0004为了达到上述目的，本发明的技术方案为：一种晶体绝缘系统功能防呆方法，包括0005接触测试：将晶体产品放置绝缘检测工位上，通。

8、过绝缘测试头探针13位检测晶体产品13脚位的频率值，通过绝缘测试头探针24位检测晶体产品24脚位的GND状态；若频率值和GND状态均满足要求，则确定检测机的绝缘测试头探针位置符合要求，否则输出绝缘测试不通过信号；0006绝缘检测：接触测试通过后，绝缘测试头探针检测晶体产品12,23,34,13脚位绝缘性阻值测试，当晶体产品12,23,34,13脚位绝缘性阻值均满足要求时，则检测机输出绝缘测试通过信号，否则输出绝缘测试不通过信号。0007进一步，数据采集及报警：检测机统计输出绝缘测试不通过信号的连续次数和累计次数，当统计的绝缘测试不通过信号的连续次数或累计次数大于设定值时，检测机暂停运行并报警。。

9、0008进一步，还包括0009校机测试：将晶体产品放置绝缘检测工位上，通过绝缘测试头探针13位检测晶体产品13脚位的频率测试值，若频率测试值与检测机的设置值相等，则完成校机测试，否则进行检测机的维护直至完成校机测试。0010进一步，完成校机测试完成，检测机将校机数据进行保存。0011一种晶体绝缘系统功能防呆装置，包括检测机，所述检测机包括PLC控制器、绝缘电阻测试仪、继电器、晶体晶振频率检测仪和绝缘测试头；所述PLC控制器与继电器连接，所述继电器分别与绝缘电阻测试仪和晶体晶振频率检测仪连接，所述绝缘测试头上安装有用于检测的四组探针，所述绝缘测试头与所述继电器连接；所述继电器通过切换与绝缘电阻说。

10、明书1/3 页3CN 116609588 A3测试仪和晶体晶振频率检测仪的连接来切换检测模式，所述检测模式包括绝缘探针检测模式和绝缘检测模式。0012进一步，所述PLC控制器能够记录和统计绝缘电阻测试仪的检测结果信号，当统计的绝缘测试不通过信号的连续次数或累计次数大于设定值时，PLC控制器关闭绝缘电阻测试仪、继电器和晶体晶振频率检测仪并进行报警。0013本技术方案的有益效果在于：本技术方案在进行绝缘性阻值测试之前，先进行绝缘测试头探针与晶体产品之间的接触状态进行判断，只有当晶体产品13脚位的频率值和24脚位的GND状态均满足要求时，才能说明绝缘测试头探针与晶体产品之间接触良好，可以进行绝缘性阻。

11、值测试，保证了测试结果的准确性，避免出现现有技术中由于探针内缩或接触位置发生偏移导致晶体绝缘检测失效，将不良产品当成良品产品流向市场的问题。附图说明0014图1为实施例一中一种晶体绝缘系统功能防呆方法的流程图；0015图2为实施例二中一种晶体绝缘系统功能防呆装置的连接图；0016图3为图2中绝缘测试仪的线路图；0017图4为图2中继电器的线路图。具体实施方式0018下面通过具体实施方式进一步详细说明：0019说明书附图中的附图标记包括：绝缘电阻测试仪1、PLC控制器2、继电器3、晶体晶振频率检测仪4、绝缘测试头5。0020下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整。

12、地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。0021实施例一0022基本如附图1所示：一种晶体绝缘系统功能防呆方法，包括以下步骤：0023S1:接触测试：将晶体产品放置绝缘检测工位上，PLC控制器2控制继电器3切换成绝缘探针检测模式，绝缘测试探头下降，通过绝缘测试头5探针13位检测晶体产品13脚位的频率值，通过绝缘测试头5探针24位检测晶体产品24脚位的GND状态(若24脚位是NC的情况，则不需要检测24导通情况)；若频率值(与检测机的设置值相等)和G。

13、ND状态均满足要求，则确定检测机的绝缘测试头5探针位置符合要求(即绝缘测试头5探针与晶体产品接触良好)，否则输出绝缘测试不通过信号(NG信号)，并将晶体产品输送至不良品容器中；0024S2:绝缘检测：接触测试通过后，PLC控制器2控制继电器3切换成绝缘检测模式，绝缘测试头5探针检测晶体产品12,23,34,13脚位绝缘性阻值测试，当晶体产品12,23,34,13脚位绝缘性阻值均满足要求时(绝缘性阻值均大于500M)，则检测机输出绝缘测试通过信号(OK信号)，并将晶体产品输送至良品容器中；否则输出绝缘测试不通过信号(NG信号)，并将晶体产品输送至不良品容器中；0025S3:数据采集及报警：检测机。

14、统计输出绝缘测试不通过信号的连续次数和累计次说明书2/3 页4CN 116609588 A4数，当统计的绝缘测试不通过信号(NG信号)的连续次数或累计次数大于设定值时，检测机暂停运行并报警。0026检测机需要定期进行校机测试，将晶体产品放置绝缘检测工位上，通过绝缘测试头5探针13位检测晶体产品13脚位的频率测试值，若频率测试值与检测机的设置值相等，则完成校机测试，否则进行检测机的维护直至完成校机测试。完成校机测试完成，检测机将校机数据进行保存，以便查询机台校机数据。可设置触控显示屏来对检测机进行操作控制，可设置指示灯来对校机检测结果进行展示，若为绿灯，则表示校机完成，否则显示红灯。0027实施。

15、例二0028如图24所示，一种晶体绝缘系统功能防呆装置，包括检测机，检测机包括PLC控制器2、绝缘电阻测试仪1、继电器3、晶体晶振频率检测仪4和绝缘测试头5；绝缘电阻测试仪1采用AT682/683，继电器3采用SJ2S05BW Relay。PLC控制器2与继电器3连接，继电器3分别与绝缘电阻测试仪1和晶体晶振频率检测仪4连接，绝缘测试头5上安装有用于检测的四组探针，绝缘测试头5与继电器3连接；继电器3通过切换与绝缘电阻测试仪1和晶体晶振频率检测仪4的连接来切换检测模式，检测模式包括绝缘探针检测模式和绝缘检测模式。PLC控制器2能够记录和统计绝缘电阻测试仪1的检测结果信号，当统计的绝缘测试不通过。

16、信号的连续次数或累计次数大于设定值时，PLC控制器2关闭绝缘电阻测试仪1、继电器3和晶体晶振频率检测仪4并进行报警。0029需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。0030以上所述的仅是本发明的实施例，方案中公知的具体结构及特性等常识在。

17、此未作过多描述，所属领域普通技术人员知晓申请日或者优先权日之前发明所属技术领域所有的普通技术知识，能够获知该领域中所有的现有技术，并且具有应用该日期之前常规实验手段的能力，所属领域普通技术人员可以在本申请给出的启示下，结合自身能力完善并实施本方案，一些典型的公知结构或者公知方法不应当成为所属领域普通技术人员实施本申请的障碍。应当指出，对于本领域的技术人员来说，在不脱离本发明结构的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些也应该视为本发明的保护范围，这些都不会影响本发明实施的效果和专利的实用性。本申请要求的保护范围应当以其权利要求的内容为准，说明书中的具体实施方式等记载可以用于解释权利要求的内容。说明书3/3 页5CN 116609588 A5图1图2说明书附图1/2 页6CN 116609588 A6图3图4说明书附图2/2 页7CN 116609588 A7。